化工用防爆數(shù)碼相機(jī)TC-XPG2000
防爆照像機(jī)已通過(guò)防爆認(rèn)證，可用在1區(qū)、2區(qū)，IIC T4危險(xiǎn)環(huán)境中拍攝靜態(tài)圖片和AVI格式的錄xiang。
具有高強(qiáng)的閃光燈，在黑暗的環(huán)境下也可以拍攝清晰的圖片。
2．4英寸的液晶顯示屏可以在現(xiàn)場(chǎng)預(yù)覽圖片，從而得到更好的圖片。
內(nèi)存按大小分為3種：512M，1GB，2GB，可以存儲(chǔ)成千上萬(wàn)張圖片。

化工用防爆數(shù)碼相機(jī)TC-XPG2000
在安全的環(huán)境下，這些圖片可以通過(guò)高速USB接口傳送到電腦等設(shè)備上。
可充電鋰電池。
參數(shù)：
防爆等級(jí)0518 II 2 G
Ex d IIC T4 Gb 
環(huán)境溫度 Tamb -20°C to +50°C
基本參數(shù) 圖像傳輸高速USB （在安全區(qū)使用） 
圖像存儲(chǔ)可選512Mb, 1Gb, 2Gb
詳細(xì)參數(shù)
機(jī)身材料
電鍍鋁*性多模
顯示屏材料

化工用防爆數(shù)碼相機(jī)/防爆數(shù)碼相機(jī)/防爆照像機(jī) 型號(hào)：TC-XPG2000
防dan玻璃
IP等級(jí)
IP54
電源參數(shù)
電池類型
防爆，可拆卸及充電
電池類型
氫電池
容量
1000m毫安
化工用防爆數(shù)碼相機(jī)/防爆數(shù)碼相機(jī)/防爆照像機(jī) 型號(hào)：TC-XPG2000

產(chǎn)品名稱：一氧化碳傳感器/礦用一氧化碳傳感器 產(chǎn)品型號(hào)：GTH500

一氧化碳傳感器/礦用一氧化碳傳感器型號(hào)：GTH500

防爆型式：礦用本質(zhì)安全型“ExibI”；
測(cè)量范圍：0-500ppm；
基本誤差：0-50ppm ±4ppm；
50-200ppm ±(4+3%測(cè)量值)ppm；
200-5000ppm ±(4+3%測(cè)量值)ppm；
過(guò)載范圍：150%；
響應(yīng)時(shí)間：小于30S；
報(bào)警的方式：間歇式聲光交替；
輸出信號(hào)：200～1000Hz/5～15Hz或 4～20mA/ 1～5mA電流；
供電電源：DC8V～18V，50mA；
通量氣流：200mL/min；
外形尺寸：280mm×180mm×68mm；
質(zhì)    量：約1kg。

產(chǎn)品名稱：多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)： ST2258C

多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀 型號(hào)： ST2258C

概述

      ST2258C型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰B/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。 
      ST2258C型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等部分組成。 
主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類功能，大分類10類。 
      探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。   
      測(cè)試臺(tái)選配：一般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測(cè)試臺(tái)。二探針?lè)y(cè)試電阻率測(cè)試選SZT-K型測(cè)試臺(tái)，也可選配SZT-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率，選配SZT-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。詳見(jiàn)《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》   
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。   
儀器于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。 

 基本技術(shù)參數(shù)

1. 測(cè)量范圍、分辨率（括號(hào)內(nèi)為可向下拓展1個(gè)數(shù)量級(jí)） 
    電    阻：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³  Ω,    分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³  Ω,    分辨率0.1×10-⁶ ～ 0.01×10³ Ω） 
    電 阻 率：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³ Ω-cm   分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω-cm 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³ Ω-cm  分辨率0.1×10^-6 ～ 0.01×10³ Ω-cm） 
    方塊電阻：50.0×10^-6 ～ 1.0×10⁶ Ω/□    分辨率5.0×10^-6 ～ 0.5×10³  Ω/□  
               （5.0×10^-6 ～ 100.0×10³ Ω/□  分辨率0.5×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω/□）   
2. 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定) 
    直    徑： SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
     長(zhǎng)(高)度：  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     測(cè)量方位:  軸向、徑向均可 
3. 量程劃分及誤差等級(jí) 

4.工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 
5.外形尺寸： 245mm（長(zhǎng)）×220 mm（寬）×95mm（高）  
   凈   重：≤1.5～2.0kg