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阻旋式料位開關TC-UJL-1G

阻旋式料位開關TC-UJL-1G

簡要描述:阻旋式料位開關TC-UJL-1G
用途
TC-UJL系列阻旋式料位開關,可廣泛于各種料倉內固體物料料位上限的定點

產品型號:

所屬分類:專業儀器

更新時間:2024-09-18

廠商性質:其他

詳情介紹
品牌其他品牌

阻旋式料位開關TC-UJL-1G
用途  
        TC-UJL系列阻旋式料位開關,可廣泛于各種料倉內固體物料料位上限的定點 

報警或控制。 

阻旋式料位開關TC-UJL-1G
       如礦粉、水泥、煤粉、糧食、飼料、化肥、化纖原料及塑料等干燥物料。 
▲特點  
△體積小,重量輕、安裝方便  
△磁耦合傳遞轉矩,過載時具有“滑脫”功能,可保護電機  
△葉片可合并并自動展開,便于安裝和拆卸  
▲結構原理  

阻旋式料位開關 阻旋料位計 型號:TC-UJL-1G 
       阻旋料位開關是依據物料對旋轉葉片的阻尼作用而工作的。葉片受阻時,過載檢測器動作, 

斷電器輸出開關信號,實現信號遠傳報警。同時,通過外接控制線路啟、停給料機,可實現料 

 

 

 

 

產品名稱:三聯多聯不銹鋼溶液過濾器/ 微生物檢驗系統(薄膜過濾器)
產品型號:WSW-3

 * 微生物檢驗系統(薄膜過濾器)  型號:WSW-3


【主要特點】   
1.一體化小型設計,減小了對實驗操作空間的占用。 
2.二合一功能,不但是可做微生物限度檢查使用,還可當獨立真空泵使用,大大節省成本。 
3.可同時抽濾2,3,4,6張濾膜,抽濾速度快,工作效率高。 
4.濾杯采用衛生級以上鏡面不銹鋼制作,經久耐用,耐酸堿,耐高溫,易消毒。可重復使用,節省成本,操作方便。 
5.每個濾杯都劃有刻度,濾杯容量小于150ML 
5.每個濾頭采用獨立的閥門控制,并且設計為插拔式安裝方式,方便操作人員靈活使用。也方便實驗人員做消毒殺菌。 
6.配備進口無油雙活塞真空泵,功率強大,流量高達120L每分,負壓接近-0.1MP,過濾速度快。 
7.每臺系統都配備進口負壓表,便于觀察系統的負壓情況 
8..全不銹鋼設計,表面鏡面處理,方便清潔和殺菌消毒。 
【工作原理】 
  將樣品放入微生物限度濾頭內,通過檢驗儀自帶內置真空泵負壓抽濾,將樣品中微生物截留在濾膜上,用取膜器取出濾膜,轉移至配置好的固體培養基上,菌面朝上,平貼。蓋上蓋子形成封閉的培養盒,置于相應的恒溫培養箱內培養并計數。 
【使用范圍】 
制藥:純化水、注射用水、眼用制劑、原料藥、膠囊、生物制品、片劑、口服制劑 
化工:各種需測試微生物水樣 食品:純凈水、礦泉水、飲料,環境監測,衛生防疫,自來水等行業。


〖 關閉 

 

 

 

 

產品名稱:數字式四探針測試儀
產品型號: ST2253

數字式四探針測試儀 型號: ST2253 
概述   
      ST2253型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。 

    儀器成套組成:由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。 
    主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成,USB通訊接口。儀器主機所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤和數碼開關輸入;具有零位、滿度自校功能;測試功能可自動/手動方式;儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成,也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結果數據由主機數碼管直接顯示,也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打?。?nbsp;
     
    探頭選配:根據不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 
     
    測試臺選配:一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺,也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率,選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。 
      詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入 
    儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。 
    儀器于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
三、基本技術參數 
     
3.1  測量范圍 
     電  阻:1×10-4~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω 
    電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm 
    方  阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定) 
     直    徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限. 
    長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    測量方位: 軸向、徑向均可 
3.3.  4-1/2 位數字電壓表: 
    (1)量程: 20.00mV~2000mV 
   (2)誤差:±0.1%讀數±2 字 
3.4 數控恒流源 
    (1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA,1A 
   (2)誤差:±0.1%讀數±2 字 
3.5 四探針探頭(選配其一或加配全部) 
    (1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調 
   (2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可調 
3.6. 電源 
    輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗:<20W 
3.7.外形尺寸: 
    主   機  220mm(長)×245 mm(寬)×100mm(高) 
   凈   重:≤2.5kg



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